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臺(tái)式電鏡SEM，即掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope)，是利用電子束掃描樣品表面，通過收集二次電子、背散射電子等信號(hào)來獲取樣品表面形貌、組成和結(jié)構(gòu)信息的顯微分析儀器，具有高分辨率、大景深、立體感強(qiáng)等特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)、冶金學(xué)等領(lǐng)域。基本工作原理是：電子槍發(fā)射出高速電子束，經(jīng)過電磁透鏡系統(tǒng)聚焦成直徑為納米級別的細(xì)束；電子束在掃描線圈的作用下按照一定規(guī)律掃描樣品表面，與樣品相互作用產(chǎn)生二次電子、背散射電子等信號(hào)；這些信號(hào)被探...

X射線粉末衍射儀利用具有一定發(fā)散度的特征X光束照射多晶平板樣品。當(dāng)X射線入射到晶體時(shí)，會(huì)在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場，引起原子中的電子振動(dòng)?；诰w結(jié)構(gòu)的周期性，晶體中各個(gè)電子的散射波會(huì)相互干涉、相互疊加，形成衍射。散射波周相一致并相互加強(qiáng)的方向被稱為衍射方向，這些方向上的衍射線會(huì)被檢測并記錄下來。通過分析這些衍射線的強(qiáng)度和位置，可以推斷出晶體的結(jié)構(gòu)信息。主要由以下四大部分組成：1.X射線發(fā)生器：產(chǎn)生X射線束，作為入射光源。2.測角儀：用于精確控制樣品和探測器之間的角度，確...

巖礦分析系統(tǒng)是一種用于地質(zhì)樣品元素含量、元素形態(tài)和同位素比值分析的技術(shù)手段，它對于地球科學(xué)研究、礦產(chǎn)資源評估和環(huán)境監(jiān)測具有重要意義，優(yōu)勢特點(diǎn)體現(xiàn)在多個(gè)方面，這些特點(diǎn)不僅提高了分析的效率和準(zhǔn)確性，而且拓寬了地質(zhì)科學(xué)研究和應(yīng)用的領(lǐng)域。1.快速高效-自動(dòng)化程度高：通常具有高度自動(dòng)化的特點(diǎn)，能夠在一套軟件上完成所有操作，大大提高了測量效率。-多元素同時(shí)分析：能夠?qū)崿F(xiàn)高精度、高準(zhǔn)確度的多元素(包括同位素)同時(shí)分析，這在傳統(tǒng)方法中是難以達(dá)到的。2.準(zhǔn)確性和準(zhǔn)確度-低檢出限：能夠達(dá)到超低的...

巖礦分析是對巖石、礦物等天然或人工材料進(jìn)行化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)特征的系統(tǒng)鑒定過程，它是地質(zhì)科學(xué)、環(huán)境科學(xué)以及材料科學(xué)中不可少的技術(shù)。巖礦分析系統(tǒng)的關(guān)鍵知識(shí)點(diǎn)：1.分析原理與技術(shù)-基本原理：巖礦分析基于物質(zhì)的物理和化學(xué)性質(zhì)，諸如密度、磁性、電性、光學(xué)特性以及化學(xué)反應(yīng)特性等來進(jìn)行。這些性質(zhì)能夠幫助科學(xué)家識(shí)別并定量巖石和礦物中的組分。-分析方法：常用的巖礦分析方法包括X射線衍射(XRD)、X射線熒光光譜(XRF)、原子吸收光譜(AAS)、質(zhì)譜分析(MS)等，這些技術(shù)能夠?qū)r石和礦物進(jìn)行準(zhǔn)...

超高壓XRD技術(shù)是一種利用X射線與物質(zhì)相互作用，通過分析衍射圖譜來研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的技術(shù)。這種技術(shù)在材料科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。其優(yōu)勢特點(diǎn)主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：1.物相和晶體結(jié)構(gòu)的準(zhǔn)確測定-物質(zhì)組成分析：能夠準(zhǔn)確測定物質(zhì)的組成，包括晶體和非晶體的組成。-晶型識(shí)別：通過衍射圖譜可以識(shí)別不同的晶型，為材料的性質(zhì)研究提供基礎(chǔ)。-分子結(jié)構(gòu)分析：能夠分析分子內(nèi)的成鍵方式、分子的構(gòu)型和構(gòu)象，從而深入了解物質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)。2.高壓環(huán)境下的研究能力-高壓實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)：配備...

原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscopy，AFM)是一種具有原子級別高分辨率的新型表面分析儀器，它不但能像掃描隧道顯微鏡(STM)那樣觀察導(dǎo)體和半導(dǎo)體材料的表面現(xiàn)象，而且能用來觀察諸如玻璃、陶瓷等非導(dǎo)體表面的微觀結(jié)構(gòu)，還可以在氣體、水和油中無損傷地直接觀察物體，大大地拓展了顯微技術(shù)在生命科學(xué)、物理、化學(xué)、材料科學(xué)和表面科學(xué)等領(lǐng)域中的應(yīng)用。AFM主要由掃描隧道顯微鏡(STM)發(fā)展而來，其基本原理相似。AFM通過一個(gè)微小的針尖與樣品表面相互作用，以實(shí)現(xiàn)高分辨率的表...

光電探測器的原理是由輻射引起被照射材料電導(dǎo)率發(fā)生改變，在各個(gè)領(lǐng)域有廣泛用途。光電探測器的核心參數(shù)主要有工作波長、帶寬、上升時(shí)間和響應(yīng)度，它們是評估光電探測器性能的關(guān)鍵指標(biāo)，也是光電探測器選型的重要依據(jù)。在選擇光電探測器時(shí)，需要根據(jù)具體應(yīng)用需求來平衡這些指標(biāo)，以獲得良好的檢測性能。1、工作波長光電探測器的工作波長是指其可以感測到的光信號(hào)的波長范圍，通常與探測器的材料有關(guān)?；诠怆娞綔y器的工作原理，當(dāng)入射光的能量(hv)大于材料的禁帶寬度時(shí)，價(jià)帶的電子才可以躍遷到導(dǎo)帶形成光電流，...